基于 I-PEX 20497-032T-30 的高速极细同轴线束传输损耗解析

随着 5G 移动设备、超薄笔记本、车载影像系统及高分辨率摄像模组不断提升带宽需求，极细同轴线束在高速传输领域的重要性愈加突出。在高速链路设计中，信号衰减与插入损耗是决定链路质量的关键。
本文以 I-PEX CABLINE-UA II 系列中的 20497-032T-30 为例，从高速传输结构角度剖析这两项指标对系统性能的影响。

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一、I-PEX 20497-032T-30 的结构特性

20497-032T-30 属于 CABLINE-UA II 系列，为 32 位高速极细同轴线束而生，间距仅 0.30mm，整体高度约 1.37mm，满足轻薄设备对空间的严格要求。触点材料采用磷青铜镀镍并叠加不低于 0.1μm 金层，使其在高速振荡环境中保持稳定接触品质。该系列符合 RoHS、REACH、Halogen-Free 要求，并适配 USB 3.1 Gen1、V-By-One HS、eDP、MIPI 等高速接口，对高频信号具备良好的保持能力。

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二、信号衰减在极细同轴线中的表现

信号衰减是高频信号在同轴结构中随距离逐步减弱的过程。极细导体固有电阻较高，GHz 级频率下趋肤效应更加明显，使能量损耗加剧。衰减水平受线束长度、频率、介电材料、弯折半径及工作温度影响，会直接减少信号幅度、缩小眼图开口并提升误码率。在高速传输系统中，衰减曲线是评估链路可靠性的基础指标。

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三、插入损耗来自结构过渡区的能量损失

插入损耗指信号在通过过渡结构时产生的能量衰减。其主要来源包括阻抗变化、金属层与介质材料差异以及接触界面的微小缺陷。如果过渡区域的特征阻抗偏离线束特性，信号会产生反射；若金属镀层、介电材料或几何结构不均匀，也会导致高频损耗增加。CABLINE-UA II 系列通过对结构过渡区的优化设计与严格公差控制，使插损维持在较低水平，从而提升整体带宽利用率与信号完整性。

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在高速与微型化并存的设计趋势中，极细同轴线束的衰减特性与过渡结构引发的插损共同决定链路的稳定性。合理选型如 20497-032T-30 这类专用于紧凑空间与高频传输的线束方案，可有效降低损耗并提升整体系统性能。

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